Статья по теме: Дифракционного максимума

Предметная область: полимеры, синтетические волокна, каучук, резина

Скачать полный текст

Анализ зависимости углового смещения дифракционного максимума от размера кристаллита для ПКА показал, что размер упорядоченной области вдоль оси микрофибриллы меньше размера большого периода. Позднее многие авторы для этой цели использовали метод оценки размеров кристаллитов по уширению дифракционных линий большеутловых рентгенограмм [33, гл. 7]. Результаты многих работ суммированы/например, в [29] и представлены на рис. П. 8, из которого следует, что продольные размеры кристаллитов заметно меньше большого периода, причем эти два параметра находятся в хорошем линейном соотношении.[3, С.96]

Однако, по данным Шелла [22], при возрастании дифракционного максимума до 300—400 А размеры ламеллей, наблюдаемых на поверхности блочного полимера, заключены в диапазоне всего 80—140 А. Неизвестно, действительно ли такая же ситуация сохраняется и при кристаллизации, приводящей к дифракционным максимумам порядка 1000 А.[2, С.288]

С определенной степенью приближения полуширина дифракционного максимума зависит почти исключительно от внешней формы кристаллита и мало зависит от характера решетки. В общем случае k зависит от внешней формы кристаллических частичек и индексов отражения [54, гл. 10]. Так, если кристаллиты имеют форму шариков, то k одинакова для всех порядков и равняется 1,075. Для кубической решетки k заключена в интервале от 1 до 1,4; зависит это от формы кристаллита и индексов отражения. Обычно принимают k = 1. Исследование профиля дифракционной линии [73, гл. 5] может дать сведения о среднем размере кристаллита /кр, среднем квадратичном размере V/кр > средних отклонениях от среднего значения. Значение полуширин для разных рефлексов hkl дает представление и о форме кристаллитов.[3, С.115]

Это заключение совпадает с более ранними предположениями Гесса и Киссига [19] о причине дифракционного максимума в ориентированных волокнах. Названные авторы связывали появление малоугловых меридианальных максимумов в полимерных системах с прохождением развернутых ориентированных цепей через кристаллические и аморфные участки структуры. Периодичность обусловлена при этом достаточно правильным чередованием упорядоченных кристаллических и разупорядочен-ных аморфных областей, и периодическое изменение электронной плотности отражает действительное различие плотностей двух фазовых состояний. Сосуществование кристаллических и аморфных областей подтверждается изучением фазового равновесия и анализом кинетики кристаллизации. Таким образом, подобная причина возникновения флуктуации электронной плотности, определяющих малоугловое рассеяние, подтверждается результатами других наблюдений.[2, С.282]

Казалось бы, более широкое распределение толщины ламелей можно ожидать в блочных образцах, так как здесь обычно наблюдается один порядок дифракционного максимума, реже два-три. Однако нужно отметить еще раз, что закономерности отжига как блочных образцов, так и матов в общем одинаковы, что, по-видимому, может свидетельствовать о приблизительном постоянстве сердцевины ламелей в блочных образцах.[3, С.79]

Сравнение относительной степени аксиальной ориентации серии полимеров разной степени вытяжки можно выполнять по упрощенной методе, связанной с измерением распределения интенсивности по азимуту какого-либо дифракционного максимума (рис. II. 15). Найдено (см. [33, гл. 4]), что между интенсивностью дугообразного дифракционного максимума в точке, расположенной под некоторым углом к меридиану, и числом кристаллитов, ориентированных под этим же углом к оси волокна, имеется соответствие. При перпендикулярном падении пучка рентгеновских лучей на образец обычно используют соотношение Поляни — см. [33, гл. 4]: cos г|з = cos ^>/cos 9. Из этого соотношения видно,[3, С.111]

Для определения размеров кристаллитов измеряли интегральную полуширину рефлексов полиэтилена 110, 220 и 002, а также линий эталонов, лежащих под брэгговскими углами, близкими к углам указанных отражений. Интегральную полуширину рефлексов вычисляли как отношение площади дифракционного максимума к его высоте после отделения рефлекса от фона, Истинную полуширину рефлекса, в предположении о гауссовом распределении интенсивности линий полиэтиленовых образцов и эталона, рассчитывали по формуле[1, С.341]

Рассмотрим структуру растянутого па 900% при 20° образца. По сравнению с нерастянутым образцом размер кристаллита в направлении Н002 практически не изменился, в то время как в направлении Н110 он уменьшился примерно в три раза. Из рис. 2, а видно, что для этого образца интенсивность малоуглового дифракционного максимума очень слабая. Наряду с этим образец обладает чрезвычайно сильным экваториальным рассеянием[1, С.343]

Цепи образуют спирали (три мономерные единицы и один виток в периоде); валентные углы в цепи равны Ц6°5307' 5308. Исследование кристаллической структуры изотактического полистирола, полученного в присутствии катализатора Циглера, указывает, что после обработки горячими растворителями изменяется интенсивность дифракционного максимума при d = = 4,16 А5306'5309. Это изменение связывают с существованием кристаллитов двух типов. Первый тип характеризуется расположением молекулярных спиралей в мицелле в одном направлении и относится к пространственной группе R3c; второй тип характеризуется противоположным 'направлением молекулярных 'спиралей в мицелле и относится к пространственной группе R3c.[4, С.326]

Приведенные результаты подчеркивают значение изотермической кристаллизации. Для такого сравнительно быстро кристаллизующегося полимера, как полиэтилен, возникают, однако, определенные технические трудности во время проведения изотермической кристаллизации при охлаждении расплава до достаточно низких температур. При этом, как видно из табл. 15, возможно сильное проявление влияния толщины образца на положение дифракционного максимума.[2, С.284]

О нарушении порядка в кристаллических областях мы судили по изменению объема и плотности элементарной ячейки на различных стадиях деформации. Для определения объема (F) мы измерили периоды а, Ь, с элементарной ячейки полиэтилена по положению рефлексов 200, 020 и 002. Плотность элементарной ячейки рк рассчитывали по формуле рк = 2M/V, где М — молекулярный вес мономерной единицы в граммах. Коэффициент 2 указывает па число мономерных единиц, приходящихся на элементарную ячейку. Поскольку величина периода с менялась мало для образцов высокой вытяжки по сравнению с нерастянутыми образцами и так как нам не удалось измерить ее для образцов 2, 3, (5 и 7 (рис. 1), то при расчете V для этих образцов мы использовали среднее значение с — 2,55 А. Положение дифракционного максимума определяли по пересечению линии профиля максимума с линией, проведенной через середины отрезков, соединяющих точки равной интенсивности [27]. Пуль гониометра устанавливали по положению одного и того же рефлекса полиэтилена по обе стороны от первичного пучка. Для устранения влияния инерционности интегрирующего устройства счетчик перемещали в прямом и обратном направлениях. Запись каждого дифракционного максимума проводили многократно (обычно двенадцать раз с тремя новыми установками образца). Точность установки образца на оси гониометра ГУР-5 составляла +0,05 мм.[1, С.342]

... отрезано, скачайте архив с полным текстом ! Полный текст статьи здесь