Для моноклинной ячейки целлюлозы рефлексы на меридиане рентгенограммы являются следствием отражения рентгеновских лучей от параллельных плоскостей аЪ (угол 20 = 34,3°), а три рефлекса на экваторе, соответствующие углам 26 22,6; 16,2 и 14,6° (см. рис. 9.5), - следствием отражения от плоскостей параллельных оси с (т.е. перпендикулярных плоскостям аЪ). Из них одна система плоскостей параллельна плоскостям ас, а две другие - диагональные (см. рис. 9.6, б).[3, С.247]
Кристаллическую решетку можно рассматривать как состоящую из различных плоскостей, проходящих через атомы решетки, каждое семейство параллельных плоскостей определяется с помощью миллеровских индексов (hkl). Можно считать, что падающие волны отражаются такими плоскостями. Расстояние dnki между соседними плоскостями (межплоскостное расстояние) с миллеровскими индексами (hkl) можно рассчитать с использованием уравнения Брэгга:[4, С.116]
Вязкость полимерных систем может быть определена следующими методами: капиллярной вискозиметрией, ротационной вискозиметрией, методом падающего шарика, методом сдвига параллельных плоскостей. Для реализации этих методов используются вискозиметры соответствующих конструкций.[1, С.168]
Явление дифракции рентгеновских лучей на кристаллических решетках открыл в 1912 г. Лауэ. Затем, независимо друг от друга, русский ученый Вульф и английский физик Брегг вывели основной закон рентгенографии, использовав аналогию с законом зеркального отражения световых лучей. Отраженные от параллельных плоскостей кристаллической решетки лучи интерферируют в том случае, когда система находится в «отражающем положении», т.е. лучи совпадают по фазе. Для этого разность хода падающего и отраженного лучей в соответствии с законом Вульфа - Брегга должна быть равна целому числу волн[3, С.145]
Для исследования поликристаллических материалов, к которым относятся практически все кристаллизующиеся полимеры, используется метод Дебая-Шеррера (метод порошка). Если на поликристаллический образец падает пучок монохроматического рентгеновского излучения, то в образце всегда найдутся кристаллы, которые будут находиться в условиях, когда выполняется формула Вульфа-Брэгга, Так как эти кристаллы ориентированы в образце хаотически, то при отражении от каждой системы параллельных плоскостей внутри таких кристаллов возникнет конус дифрагированных рентгеновских лучей. Ось этого конуса совпадает с направлением первичного пучка лучей. Поставив за образцом перпендикулярно лучу кассету с плоской фотопленкой, получают на пленке систему колец.[2, С.171]
РЕНТГЕНОСТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ полимеров, рентгенография (X-ray analysis, Ront-genanalyse, analyse aux rayons X) — метод исследования структуры веществ с помощью дифракции рентгеновских лучей. При попадании в образец первичного нучка лучей (длина волны Х=0,5—2,0 А) вследствие дифракции возникают дифрагированные лучи. Изучая направление и интенсивность таких лучей, получают сведения о структуре вещества. Применяют два вида регистрации дифрагированных лучей: 1) на фотопленку; при этом на рентгенограмме в месте попадания луча возникает почернение — рефлекс; каждому дифрагированному лучу соответствует система параллельных плоскостей, расположенных определенным образом в кристаллите. Каждому рефлексу приписываются целочисленные индексы hkl, к-рые определяют положение соответствующей системы плоскостей относительно осей элементарной ячейки кристаллита (см. Кристаллическое состояние); 2) с помощью счетчика рентгеновских квантов на специальном приборе — дифрактометре. Передвигая счетчик или образец, можно записывать на дифрактометре распределение интенсивности вдоль какого-либо направления в пространстве — дифрактограмму.[8, С.167]
РЕНТГЕНОСТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ полимеров, рентгенография (X-ray 'analysis, Ront-genanalyse, analyse aux rayons X) — метод исследования структуры веществ с помощью дифракции рентгеновских лучей. При попадании в образе.ц первичного пучка лучей (длина волны А,=0,5—2,0 А) вследствие дифракции возникают дифрагированные лучи. Изучая направление и интенсивность таких лучей, получают сведения о структуре вещества. Применяют два вида регистрации дифрагированных лучей: 1) на фотопленку; при этом на рентгенограмме в месте попадания луча возникает почернение — рефлекс; каждому дифрагированному лучу соответствует система параллельных плоскостей, расположенных определенным образом в кристаллите. Каждому рефлексу приписываются целочисленные индексы hkl, к-рые определяют положение соответствующей системы плоскостей относительно осей элементарной ячейки кристаллита (см. Кристаллическое состояние); 2) с помощью счетчика рентгеновских квантов на специальном приборе — дифрактометре, Передвигая счетчик или образец, можно записывать на дифрактометре распределение интенсивности вдоль какого-либо направления в пространстве — дифрактограмму.[11, С.167]
Рефлексы, возникающие на экваторе рентгенограммы, являются результатом отражения от семейства плоскостей, параллельных оси текстуры. Например, на рентгенограмме ориентированного хорошо закристаллизованного поликалроамвда, кристаллы которого образуют моноклинную элементарную ячейку, на экваторе наблюдаются рефлексы (00,2) и (200). Эти рефлексы получаются при отражении рентгеновских лучей от плоскостей (002) и ,(200), параллельных оси «6», совпадающей с осью текстуры.[5, С.40]
Понятно, что на меридиане текстур-рентгенограммы получаются рефлексы, соответствующие отражению рентгеновских лучей от кристаллографических плоскостей, перпендикулярных оси текстуры. Однако для того, чтобы получить на меридиане рентгенограммы рефлекс, соответствующий углу 0, необходимо, чтобы угол между первичным пучком и осью текстуры составлял 90° — в. Для исследования поликристаллических материалов, к которым относятся практически все кристаллические полимеры, используется метод Дебая — Шеррера (метод «порошка»). Сущность этого метода сводится к следующему. Если на поликристаллический образец падает пучок монохроматического рентгеновского излучения, то в образце всегда найдутся кристаллики, которые будут находиться s условиях, при которых выполняется фо'рмула Вульфа—Брэгга. Так как эти кристаллики ориентированы ъ образце хаотически, то при отражении от каждой системы параллельных 'плоскостей внутри таких кристалликов, для которой (выполняется формула (2.8), возникнет конус дифрагированных рентгеновских лучей. Ось этого конуса совпадает с направлением первичного пучка рентгеновских лучей. Поставив за образцом на пути рентгеновского пучка перпендикулярно ему кассету с плоской фотопленкой, получим на пленке систему колец (рис. 13).[5, С.40]
Метод сдвига параллельных плоскостей (пластин) 484[9, С.235]
Метод сдвига параллельных плоскостей (пластин) 484[10, С.232]
ТЕОРЕТИЧЕСКАЯ МЕХАНИКА СТУДЕНТАМ!!! Задачи по теоретической механике из сборника курсовых работ под редакцией А.А. Яблонского, Кепе, Диевского. Быстро, качественно, все виды оплат, СМС-оплата.
А также: Готовые решения задач по теормеху из методичек Тарга С.М. 1988 и 1989 г. и задачника Мещерского. Решение любых задач по термеху на заказ.
Если Вам нужны решения задач по Физике из методички Чертова А.Г. для заочников, а также решебнки: Прокофьева, Чертова, Воробьёва и Волькинштейна. Решение любых задач по физике и гидравлике на сайте fiziks.ru
Что самое приятное на любом из этих сайтов Вы можете заказать решение задач по другим предметам: химия, высшая математика, строймех, сопромат, электротехника, материаловедение, ТКМ и другие.