Независимо от типа электронные микроскопы состоят из колонны, вакуумной системы и системы электронного питания. Устройство колонны просвечивающего микроскопа схематически показано на рис. 7.7. Источником потока электронов является пушка, со-[1, С.110]
Независимо от типа электронные микроскопы состоят из колонны, вакуумной системы и системы электронного питания. Устройство колонны просвечивающего микроскопа схематически показано на рис. 7.7. Источником потока электронов является пушка, состоящая из катода, анода и фокусирующего электрода. Между катодом и анодом создается высокое напряжение, которое разгоняет испускаемые катодом электроны до больших скоростей. По выходе из пушки электроны продолжают двигаться по инерции прямолинейно и равномерно с этими скоростями. Поток электронов с помощью конденсорной линзы формируется и направляется на исследуемый образец. Проходя через образец, часть электронов в результате столкновений рассеивается на определенный угол. Электроны, рассеивающиеся на большой угол, задерживаются апертурной диафрагмой и в формировании изображения не участвуют. Элект-[1, С.112]
Разработанные в последние годы высоковольтные электронные микроскопы (ускоряющий потенциал порядка 200 кВ) дают возможность исследовать относительно толстые образцы толщиной 1 мкм и более. При изучении этим методом двухфазных полимерных[3, С.355]
При ^=50000 & длина волны электрона примерно в 10^ раз меньше длин волн видимого света, н согласно уравнению (7) разрешзющап способность и увеличение микроскопа ггри ггр^мергеггии злектротгь№ волтг повышаегся [ia пять порядков, Вследствие иесовершенства линз разрешающая LnocoCnocTb электрпн-nwx 2йнкро^коло& лреэышает разрешающую слособромъ олтичсскнд: микроскопов не на пить порядков, как это следовало ожидать, а всего на дпа порядка Современные электронные микроскопы имеют разрешающую способность d=5 — 8 Л- При d=*\Q А (ОДН мк) полезное увеличение электродного микроскопа равно 200 000.[2, С.118]
За пределами чувствительности всех рассмотренных методов изучения микрогеометрии поверхности лежит целая область микрошероховатости и субмикроскопических неровностей. Эта категория неровностей с размерами 10~6—10~8 см представляет существенный интерес для оценки поверхностей субстратов. Наиболее перспективным методом изучения подобных микронеровностей является электронная микроскопия. Прогресс в создании совершенных и разнообразных электронных микроскопов способствует расширению этих исследований. До последнего времени наиболее широкое применение находили электронные микроскопы просвечивающего типа. В этих случаях структуру поверхности исследуют при помощи реплик — тонких прозрачных для электронов слепков с поверхности. Многочисленные способы получения реплик подробно описаны в руководствах [41, 241—244].[6, С.96]
Просвечивающие электронные микроскопы позволяют одновременно с одного и того же участка образца диамет-[8, С.474]
Современные промышленные электронные микроскопы позволяют наблюдать, изменяя величину токов в электромагнитных[4, С.102]
Для изучения массивных блоков полииеров удобны растровые электронные микроскопы. Особенно большими преимуществами они обладают при исследовании объектов с грубым рельефом, композиционных материалов, а также при изучении топографии поверхностей разрушения. Достоинство растровых микроскопов — большая глубина резкости, достигающая 1 мм при увеличениях ок. хЮО и нескольких мкм при увеличениях ХЮОО и больших. Благодаря этому удастся получать объемные изображения исследуемых препаратов.[8, С.476]
Для визуализации электрических микрополей успешно можно использовать и растровые электронные микроскопы.[6, С.98]
Отметим попутно, что наиболее часто цитируемые ЭМ данные о размерах микрофибрилл были получены в 40—50-х годах, когда как сами электронные микроскопы, так и методы препарирования зачастую не отличались большим совершенством. Закономерно поэтому, что абсолютные значения размеров микрофибрилл иногда требуют некоторого уточнения, особенно тогда, когда сопоставляют их с данными рентгенодифрак-ционных методов или пытаются установить связь между конкретными физико-химическими свойствами и структурой полимеров.[7, С.88]
Один из широко распространенных приемов препарирования — изготовление очень тонких, толщиной 20—30 нм (200—300 А), пленок из разб. р-ров полимеров. Этим методом можно изучать кристаллизацию полимеров при удалении растворителя в различных темпе-ратурпо-временных условиях, закономерности роста сферолитов и их тонкое внутреннее строение, процессы перестройки надмолекулярной структуры при деформировании образца и т. д. Для исследований этим методом электронные микроскопы снабжают специальными приставками, позволяющими охлаждать (до —150 °С), нагревать (до +1000 °С) и деформировать изучаемые объекты непосредственно в микроскопе.[8, С.475]
ТЕОРЕТИЧЕСКАЯ МЕХАНИКА СТУДЕНТАМ!!! Задачи по теоретической механике из сборника курсовых работ под редакцией А.А. Яблонского, Кепе, Диевского. Быстро, качественно, все виды оплат, СМС-оплата.
А также: Готовые решения задач по теормеху из методичек Тарга С.М. 1988 и 1989 г. и задачника Мещерского. Решение любых задач по термеху на заказ.
Если Вам нужны решения задач по Физике из методички Чертова А.Г. для заочников, а также решебнки: Прокофьева, Чертова, Воробьёва и Волькинштейна. Решение любых задач по физике и гидравлике на сайте fiziks.ru
Что самое приятное на любом из этих сайтов Вы можете заказать решение задач по другим предметам: химия, высшая математика, строймех, сопромат, электротехника, материаловедение, ТКМ и другие.