Когерентность источника излучения оказывает существенное влияние на качество оптического изображения как в контактном, так и в проекционном методе формирования микроизображения. При когерентном освещении меняются условия формирования изображения; в изображении складываются амплитуды светового поля, а не интенсивности, как при некогерентном освещении; возникает характерный «когерентный шум», зернистость изображения. В связи с этим возможности формирования тех или иных структур в изображении оказываются зависимыми не только от качества оптической системы, но и от фазовых соотношений в объекте, взаиморасположения, размеров и формы элементов.[4, С.28]
Световой поток источника излучения / разделяется на два луча: рабочий поток, который проходит через образец 12, и поток, проходящий через кювету сравнения 2. Оба потока, проходя через[1, С.189]
Пост-полимеризация. При Р. п., напр. в твердом состоянии или эмульсиях, наблюдается продолжение реакции с относительно высокой скоростью после выключения источника излучения. Пост-полимеризация м. б. использована для получения полимеров с •очень высокой мол. массой, а также привитых и блок-сополимеров. . >[9, С.125]
П о с т - п о л и м е р и з а ц и я. При Р. п., напр, в твердом состоянии или эмульсиях, наблюдается продолжение реакции с относительно высокой скоростью после выключения источника излучения. Пост-полимеризация м. б. использована для получения полимеров с очень высокой мол. массой, а также привитых и блок-сополимеров.[8, С.125]
Отсюда становится 'понятным характерный признал радиационной ЭП — независимость скорости реакции от температуры и образование значительных количеств полимера 'после выключения источника излучения [50].[6, С.15]
Определенный практический интерес представляет полимеризация с помощью ионизирующей радиации, так как получаемые таким способом полимеры не загрязнены инициаторами и катализаторами. В качестве источника излучения используют у- и рентгеновские лучи, быстрые электроны, нейтроны и т. д. [391, 1571—1575]. Дриго и Де-Марко [1575] наблюдали интересное явление: образцы, подвергнутые воздействию у-лучей (Со60 интенсивностью 1000—1500 рентген/час) до глубины превращения — 50%, полимеризуются далее без облучения, причем быстрее не только совсем не облучавшихся образцов, но и образцов, полимеризация которых проводилась все время при облучении.[10, С.271]
Система контроля геометрических размеров листовых и пленочных материалов. Для измерения толщины применяют радиометрические контактные, ИК- и пневматические устройства. Среди радиометрических следует отметить устройства, в которых используют изотопы ("Прометей"-147) в качестве источника излучения. Их достоинством является значительное изменение интенсивности даже при небольшом изменении толщины. При использовании ИК-устройств следует учитывать зависимость их показаний от вида и концентрации применяемого в материале красителя.[5, С.253]
Получение спектра с помощью фотодиодной матрицы [12] позволяет регистрировать весь спектр в диапазоне 190-800 нм, обрабатывать поступающий сигнал на компьютере и сочетать достоинства обоих методов регистрации. Нижний предел определяется качеством оптической системы и интенсивностью источника излучения, длинноволновая граница - чувствительностью детектора. Возможно [13] применение спектрометров в УФ- и видимой области, созданных на базе миниатюрных полупроводников и прецизионной кварцевой техники, в качестве детекторов в хроматографии, спектрофотометров с малым временем регистрации спектров, сенсоров и др.[3, С.186]
Наконец, следует упомянуть, что рассмотренный выше серый эталон по DIN 54001 (и DIN 54002) в свое время также был определен с применением формулы AN. При использовании DIN 6174 для расчета цветовых различий A?AN следует принимать во внимание, что формула пригодна только для небольших цветовых различий. Кроме того, при измерении следует учитывать стандарт DIN 53236, касающийся геометрии измерения. При этом определяются координаты цветности X, Y и Z образца и эталона и производится пересчет с учетом нормированного источника излучения и наблюдателя. Из полученных значений с помощью пересчета или таблиц получают величины Vx, VY, Vz. Математически эта взаимосвязь выражается уравнением:[7, С.53]
В заключение следует отметить, что в целом для технологии важна воспроизводимость структурных элементов рельефа — критерий, называемый в англоязычной литературе Li?.e width control. Требуемый размер элементов микрорельефа нужно удерживать в определенных пределах на всей площади подложки и в течение всего технологического процесса. На воспроизводимость элементов микрорельефа оказывают влияние набухание резиста, а также следующие факторы экспозиционных устройств: механическая стабильность системы, качество оптики, стабильность источника излучения, форма пучка излучения, размер элементов маски; и технологии: однородность и толщина слоя резиста, режим проявления, пред- и постэкспозиционной> термообработки и травления, условия плазменного удаления вуали.[4, С.65]
Передача совокупной оптической системой, состоящей из объекта, источника излучения, объектива, фотоприемника и других[4, С.29]
ТЕОРЕТИЧЕСКАЯ МЕХАНИКА СТУДЕНТАМ!!! Задачи по теоретической механике из сборника курсовых работ под редакцией А.А. Яблонского, Кепе, Диевского. Быстро, качественно, все виды оплат, СМС-оплата.
А также: Готовые решения задач по теормеху из методичек Тарга С.М. 1988 и 1989 г. и задачника Мещерского. Решение любых задач по термеху на заказ.
Если Вам нужны решения задач по Физике из методички Чертова А.Г. для заочников, а также решебнки: Прокофьева, Чертова, Воробьёва и Волькинштейна. Решение любых задач по физике и гидравлике на сайте fiziks.ru
Что самое приятное на любом из этих сайтов Вы можете заказать решение задач по другим предметам: химия, высшая математика, строймех, сопромат, электротехника, материаловедение, ТКМ и другие.