Рис. 9.13. Схематическое изображение полимерного стержня, плавящегося на нагретой движущейся неограниченной поверхности (внизу приведено увеличенное изображение части пленки расплава и полимерного стержня):[1, С.281]
Сжимающее устройство укрепляется на столике микроскопа, снабженного вертикальным осветителем, и с помощью плоского -зеркала, расположенного под углом 45°, увеличенное изображение зоны контакта проецируется на экран. При малых нагрузках очень заметны шероховатости и дефекты поверхности, а на обеих сторонах зоны сжатия возникают интерференционные картины. Они могут быть использованы для оценки действительной ширины контакта, но величина коррекции мала и лежит в пределах ошиб-,ки измерений. Типичный результат для волокон полиэтилентере-[4, С.220]
Особенности электронномикроскопического исследования полимеров. Э. и. относят к т. паз. прямым методам исследования структуры объектов. Считается, что на экране (фотопластинке) регистрируется увеличенное изображение объекта, не претерпевшего никаких изменений в процессе съемки. Однако для полимеров это выполняется далеко не всегда. Пучок электронов может вызвать разрушение кристаллич. областей настолько быстро, что электронно дифракционная картина исчезает за несколько секунд при интенсивностях пучка, необходимых для получения снимка. Кроме того, электронный пучок вызывает значительный разогрев образца — на десятки градусов. Указанные причины могут приводить к появлению на снимках деталей, обусловленных, например, сморщиванием объекта; эти детали ошибочно могут быть приняты за структурные образования.[6, С.475]
Особенности электронномикроскопического исследования полимеров. Э. и. относят к т. наз. прямым методам исследования структуры объектов. Считается, что на экране (фотопластинке) регистрируется увеличенное изображение объекта, не претерпевшего никаких изменений в процессе съемки. Однако для полимеров это выполняется далеко не всегда. Пучок электронов может вызвать разрушение кристаллич. областей настолько быстро, что электроннодифракционная картина исчезает за несколько секунд при интенсивностях пучка, необходимых для получения снимка. Кроме того, электронный пучок вызывает значительный разогрев образца — на десятки градусов. Указанные причины могут приводить к появлению на снимках деталей, обусловленных, например, сморщиванием объекта; эти детали ошибочно могут быть приняты за структурные образования.[9, С.474]
Для регистрации ИК-спектров полимеров используют твердые образцы, напр, пленки, таблетки в КВг, суспензии в вазелиновом масле и топкие волокна, а также р-ры. Однако исследования ИК-спектров р-ров полимеров пока ограничены, ввиду трудностей, возникающих при интерпретации результатов, и плохой растворимости многих важных полимеров. На двулучевом приборе обычного типа исследуют образцы сечением ок. 1 см- (25x4 мм). Т. к. часто бывает трудно приготовить тонкие полимерные пленки такого размера с достаточно однородными поверхностями п равномерными но толщине, исследования указанных образцов удобнее проводить на однолучевом приборе, в к-ром можно использовать увеличенное изображение образца.[7, С.532]
Для регистрации ИК-спектров полимеров используют твердые образцы, напр, пленки, таблетки в КВг, суспензии в вазелиновом масле и тонкие волокна, а также р-ры. Однако исследования ИК-спектров р-ров полимеров пока ограничены, ввиду трудностей, возникающих при интерпретации результатов, и плохой растворимости многих важных полимеров. На двулучевом приборе обычного типа исследуют образцы сечением ок. 1 см2 (25x4 мм). Т. к. часто бывает трудно приготовить тонкие полимерные пленки такого размера с достаточно однородными поверхностями и равномерными по толщине, исследования указанных образцов удобнее проводить на однолучевом приборе, в к-ром можно использовать увеличенное изображение образца.[8, С.529]
Электронный микроскоп состоит из осветительной системы, камеры объекта и системы электромагнитных линз (рисунок). В осветительной системе, включающей источник электронов (электронную пушку) и конден-сорные линзы, создается и формируется пучок электронов необходимой интенсивности и апертуры. Для ускорения электронов применяют высокое напряжение, величина к-рого в зависимости от типа прибора может варьировать от нескольких кв (низковольтная микроскопия) до 1 Мв (высоковольтная микроскопия). Наибольшее применение находят микроскопы с ускоряющим напряжением до 100 кв. Прошедшие через исследуемый препарат электроны попадают в поля объективной, промежуточной и проекционной линз, создающих увеличенное изображение либо на флуоресцентном экране (для визуального наблюдения), либо на фотопластинке. Так как в воздухе длина свободного пробега электронов очень мала и нагретая вольфрамовая нить (источ-[9, С.473]
Электронный микроскоп состоит из осветительной системы, камеры объекта и системы электромагнитных линз (рисунок). В осветительной системе, включающей источник электронов (электронную пушку') и конден-сорные линзы, создается и формируется пучок электронов необходимой интенсивности и апертуры. Для ускорения электронов применяют высокое напряжение, величина к-рого в зависимости от типа прибора может варьировать от нескольких кв (низковольтная микроскопия) до 1 Me (высоковольтная микроскопия). Наибольшее применение находят микроскопы с ускоряющим напряжением до 100 кв. Прошедшие через исследуемый препарат электроны попадают в ноля объевтивной, промежуточной и проекционной линз, создающих увеличенное изображение либо на флуоресцентном экране (для визуального наблюдения), либо на фотопластинке. Так как в воздухе длина свободного пробега электронов очень мала и нагретая вольфрамовая нить (источ-[6, С.474]
а — общий вид поверхности разрыва; б — увеличенное изображение части зеркальной поверхности разрыва.[3, С.85]
роны, рассеянные в пределах апертурного угла, формируют увеличенное изображение объекта. Затем электроны проходят проекционную линзу, создающую конечное изображение образца на экране, покрытом флуоресцирующим веществом, например сульфидом кадмия. Использование способности последнего светиться под действием ударов электронов приводит к получению видимого изображения на экране. Фокусировка потока электронов и построение с его помощью изображения осуществляется посредством электрических и магнитных полей, обладающих осевой симметрией. Такие поля обеспечиваются применением электронных линз.[2, С.111]
пилена, к которому добавлялись различные количества атактиче-ского полипропилена р качестве примеси. Как видно из рисунка, ло мере увеличения массового содержания атактического полипропилена плотность лучевидных макрофибрилл (белые участки на снимках) снижается, и они становятся более неоднородными, что свидетельствует о проникновении примеси в пространство между фибриллами. На рис. III.91 дано увеличенное изображение сферолитов исходного образца полипропилена (смеси), полученного кристаллизацией при 135 °С и последующей выдержкой при 120 °С. Можно заметить, что участки расплава между фибриллами, оставшиеся незакристаллизованными при[5, С.263]
ТЕОРЕТИЧЕСКАЯ МЕХАНИКА СТУДЕНТАМ!!! Задачи по теоретической механике из сборника курсовых работ под редакцией А.А. Яблонского, Кепе, Диевского. Быстро, качественно, все виды оплат, СМС-оплата.
А также: Готовые решения задач по теормеху из методичек Тарга С.М. 1988 и 1989 г. и задачника Мещерского. Решение любых задач по термеху на заказ.
Если Вам нужны решения задач по Физике из методички Чертова А.Г. для заочников, а также решебнки: Прокофьева, Чертова, Воробьёва и Волькинштейна. Решение любых задач по физике и гидравлике на сайте fiziks.ru
Что самое приятное на любом из этих сайтов Вы можете заказать решение задач по другим предметам: химия, высшая математика, строймех, сопромат, электротехника, материаловедение, ТКМ и другие.