На главную

Статья по теме: Микроискажений кристаллической

Предметная область: полимеры, синтетические волокна, каучук, резина

Скачать полный текст

Рис. 3.6. Зависимость величины микроискажений кристаллической решетки в Си, полученной ИПД кручением, от температуры отжига: кривые 1 и 2 получены с использованием рентгеновских пиков (111) и (222), кривые 3 и 4 — с использованием пиков (200) и (400). При построении кривых 1 к 3 применялся PC А метод [239], а при получении кривых 2 и 4 — метод [240][1, С.130]

Анализ [81] эволюции размера зерен и микроискажений кристаллической решетки в ходе отжига, проведенного при температуре Т = 170 °С в течение различного времени, обнаружил, что увеличение размера зерен в направлении (111) протекает постепенно, резко возрастая после 90 мин отжига. В то же время заметное увеличение размера зерен в направлении (200) наблюдается уже после 60 мин и резко возрастает при больших временах отжига. С другой стороны, микроискажения кристаллической решетки в направлении (111) остаются неизменными вплоть до 60 мин отжига включительно и далее резко уменьшаются. Одновременно микроискажения в направлении (200) уменьшаются плавно вплоть до 60 мин отжига, а затем резко уменьшаются.[1, С.133]

Наноструктурные ИПД материалы характеризуются также высоким уровнем внутренних напряжений и микроискажений. Например, полученные в [125] с использованием метода Уоррена-Авербаха значения упругих микроискажений кристаллической решетки (еш)1/2 Для Си, подвергнутой ИПД кручением, равны 6,1 х х 10~2% и 11,8 х 10~2% для направлений, перпендикулярных плоскостям (111) и (200) соответственно. Эти значения близки к значениям, вычисленным с помощью уравнения Шеррера и Вильсона, которые равны 4,8 х 10~2 % и 14,3 х 10~2 % соответственно. Другие многочисленные работы также показывают [71, 74, 75, 79-82, 124], что величина микроискажений в наноструктурных ИПД материалах велика и значительно превышает соответствующую величину в крупнокристаллических материалах.[1, С.72]

Другой интересной особенностью является значительное уши-рение рентгеновских пиков в данных образцах. Значения полуширины рентгеновских пиков для сконсолидированного образца Ni выше, чем для исходного порошка. Это в первую очередь обусловлено увеличением упругих микроискажений кристаллической решетки в процессе консолидации порошка, а не измельчением зерен. Уменьшение полуширины рентгеновских пиков при низкотемпературном отжиге сконсолидированного образца Ni, когда размер зерна все еще остается неизменным, подтвердило этот факт. С другой стороны, наблюдаемое различное уширение рентгеновских пиков может быть связано с развитием различной дефектной структуры в зернах, принадлежащих различным текстурным компонентам, а также формированием кристаллографической текстуры.[1, С.57]

Значения размера зерен-кристаллитов и микроискажений кристаллической решетки, рассчитанные с помощью известных уравнений Шеррера и Вильсона[1, С.36]

Основываясь на полученных данных об увеличении размера зерен, уменьшении микроискажений кристаллической решетки, а также увеличении атомных смещений, можно предположить, что процесс возврата в наноструктурных материалах, полученных ИПД, сопровождается переходом границ зерен в более равновесное состояние и исчезновением полей упругих дальнодействующих напряжений. В пользу этого свидетельствует и небольшая скорость деформации при холодной прокатке, являющаяся важным фактором, определяющим процесс формирования структуры.[1, С.152]

Холодная прокатка может привести к более однородному распределению дефектов структуры в зернах наноструктурных материалов, полученных ИПД. В то же время уровень микроискажений кристаллической решетки может быть достаточно высоким, чтобы обеспечить повышенное значение микротвердости, что и наблюдалось экспериментально [98].[1, С.152]

В результате консолидации размер зерен-кристаллитов практически не меняется, хотя уровень микроискажений в направлении (111) несколько падает (табл. 1.3) [81]. Следует отметить, что из-за сильного ослабления интенсивности рентгеновских пиков (200) и (400) в результате ИПД кручением определить размер зерен и величину микроискажений кристаллической решетки в направлении (200) не представилось возможным.[1, С.58]

Холодная прокатка наноструктурной Си, полученной РКУ-прес-сованием, приводит к возрастанию величины интегральной интенсивности диффузного фона рассеяния рентгеновских лучей на 4,9 % по сравнению с состоянием до прокатки [98]. Одновременно в результате холодной прокатки происходит увеличение размера зерен в направлении (200) и уменьшение величины микроискажений кристаллической решетки в этом направлении (табл. 3.1).[1, С.150]

В работе [81] методом РСА исследовали влияние числа проходов при РКУ-прессовании Си на измельчение микроструктуры и уровень упругих напряжений. Было установлено, что уже после одного прохода в Си формируется структура, характеризующаяся малым размером ОКР и значительными микроискажениями кристаллической решетки. Как и в случае ИПД кручением, размер кристаллитов, измеренный с помощью различных рентгеновских пиков, так же как и уровень микроискажений кристаллической[1, С.45]

решетки, был различен. Вместе с тем не было обнаружено значительных изменений размера кристаллитов и уровня микроискажений кристаллической решетки при увеличении числа проходов в ходе РКУ-прессования. Эти данные согласуются с рассмотренными выше результатами электронно-микроскопических исследований, свидетельствующими о том, что эволюция структуры в ходе интенсивной деформации связана прежде всего не с дальнейшим измельчением микроструктуры, а с трансформацией дислокационной ячеистой структуры в ультрамелкозернистую с большеугло-выми границами зерен.[1, С.46]

... отрезано, скачайте архив с полным текстом ! Полный текст статьи здесь



ТЕОРЕТИЧЕСКАЯ МЕХАНИКА СТУДЕНТАМ!!!
Задачи по теоретической механике из сборника курсовых работ под редакцией А.А. Яблонского, Кепе, Диевского. Быстро, качественно, все виды оплат, СМС-оплата.
А также: Готовые решения задач по теормеху из методичек Тарга С.М. 1988 и 1989 г. и задачника Мещерского. Решение любых задач по термеху на заказ.
Если Вам нужны решения задач по Физике из методички Чертова А.Г. для заочников, а также решебнки: Прокофьева, Чертова, Воробьёва и Волькинштейна. Решение любых задач по физике и гидравлике на сайте fiziks.ru
Что самое приятное на любом из этих сайтов Вы можете заказать решение задач по другим предметам: химия, высшая математика, строймех, сопромат, электротехника, материаловедение, ТКМ и другие.

СПИСОК ЛИТЕРАТУРЫ

1. Валиев Р.З. Наноструктурные материалы, полученные интенсивной пластической деформацией, 2000, 272 с.

На главную