Параметры кристаллической решетки составляют: а = 0,8025 нм, Ъ = 0,5999 нм, с = 1,5951 нм, а = у = 90° и р = 108,88°. Шестичленное кольцо плоское, максимальное отклонение от плоскости атомов Сз = 0,0012 нм, d = 0,0001 нм и Si = 0,002 нм. Атомы Si, 82, N и Q копланарны в пределах 0,0005 нм. Длина водородной связи NH...S составляет0,3347нм. Повторное определение [266] кристаллической и молекулярной структуры МВТ привело к следующим значениям параметров элементарной ячейки: а = 0,8014 нм, Ъ = 0,6004 нм, с = 1,5393 нм, а = у = 90°,[6, С.66]
Изменение числа СН3-групп влияет не только на степень кристалличности, но и на параметры кристаллической ячейки [58, с. 453; 129]. Увеличение числа СН3-групп вызывает заметное увеличение параметра а элементарной ячейки и в значительно меньшей степени параметра Ъ [129]:[3, С.145]
В работе [261] установлена принадлежность кристаллов диэтилдитиокарбамата теллура к моноклинной сингонии и структурному классу Р2/с, Z = 4(1). Параметры кристаллической решетки следующие: а = 1,5191 нм, Ъ = 0,8425 нм,[6, С.64]
Кристалл представителя тиурамных ускорителей дипен-таметилентиурамдисулъфида описывается структурным классом P22i2i2i, Z = 4(1), принадлежащим к ромбической сингонии [257]. Параметры кристаллической решетки этого ускорителя имеют значения: а = 1,1816 нм, b = 1,5023 нм, с = 0,8891 нм,[6, С.65]
Во время ксантогенирования существенные изменения происходят на всех структурных уровнях в том числе: морфологическом (волокнистое строение) и надмолекулярном (степень кристалличности, параметры кристаллической решетки, размеры больших периодов). Особенно большие изменения наблюдаются при мокром и эмульсионном ксантогенировании. Эти процессы, по существу, приводят к полному исчезновению волокнистой структуры, т. е. к переходу ксантогенированных молекул целлюлозы в раствор. При сухом ксантогенировании из-за недостатка щелочной жидкой фазы и слабых напряжений сдвига волокнистая структура как правило сохраняется, но в ней, как и в тонкой структуре, происходят заметные изменения.[7, С.94]
Гетероцепные неорганические полимеры селена и теллура изучались значительно меньше гетероцепных полимеров серы. Ряд работ посвящен исследованию в области селенидов металлов 1144'1145. Опубликованы данные по природным селенидам и теллуридам431. Яндером и Дечем 1146'1147 впервые получен селе-нид азота (N|»e)n, 'который, вероятно, состоит из циклов, содержащих четыре молекулы NSe. Найдено, что (NSe)n чрезвычайно взрывчат и плохо растворим в органических и неорганических растворителях. Для селенида азота установлены параметры кристаллической решетки 1148'1149.[10, С.616]
С помощью рентгеноструктурного анализа было показано, что обычный линейный поливинилхлорид при комнатной температуре частично кристалличен548. Одноосно ориентированные образцы поливинилхлорида дают в основном два новых отражения M[(d = 5,15A) и jLj(d = 4,69A) на меридиане рентгенограммы 549. Авторы объяснили возникновение меридиального отражения MI как результат отражения рентгеновских лучей от ряда плоскостей, перпендикулярных оси ориентации, a L\ — от 'Слоев. На основании данных рентгеноструктурных исследований были определены параметры кристаллической ячейки для образцо>в волокон поливинилхлорида 55°, ориентированных в направлении оси, которые равны: а= 10,65 А; Ъ = 5,15 А (ось волокна); с = 5,20 А; р = 90°. Указанная элементарная ячейка содержит -четыре мономерных звена. Вычисленная на основании основных параметров ячейки плотность поливинилхлорида составляет 1,455 г/см3, что несколько отличается от фактически наблюдаемой, которая лежит в пределах 1,38—1,42 г/см3. По[11, С.494]
Образование областей дальнего порядка в кристаллизующихся полимерах за счет параллельной укладки полностью выпрямленных макромолекул маловероятно, хотя, при определенных условиях, кристаллизация с образованием кристаллов с выпрямленными цепями (КВЦ) и возможна (стр. 49). Обычно в образовании кристаллических областей (кристаллитов) принимают участие лишь небольшие регулярные участки макромолекул, длина которых не превышает сотен А. Атомы в кристаллитах располагаются в строго трехмерном порядке, так же как в кристаллах низкомолекулярных веществ. Тип и параметры кристаллической решетки определяют обычно по расположению рефлексов в большеугловых рентгенограммах полимера, а размеры кристаллитов по их уширению (см. раздел II. 2). Такие рентгенограммы получали от полимеров еще в 20 гг. и долгое время изучение упорядоченности расположения макромолекул в кристаллизующихся полимерах сводилось лишь к установлению типа решеток, а также определению ориентации макромолекул в текстурированных материалах. Кристаллографические данные практически для всех кристаллизующихся полимеров приведены в монографиях [7, гл. 2; 39, с. 452—473]. Из-за малого объема книги не представляется[9, С.29]
Грубой моделью кристалло-аморфного полимера является суперсетка, узлы которой образованы кристаллитами, играющими роль «зажимов», а деформационные свойства обусловлены аморфными сочленяющими участками, состоящими из «проходных» цепей. Доля этих цепей (в расчете на число цепей в единичном сечении кристаллита) редко превышает 30%, а из этих 30% примерно лишь десятая часть непосредственно реагирует на нагрузку. Именно по этой причине (малая доля «держащих нагрузку» цепей) реальная прочность кристаллизующихся полимеров обычно составляет несколько процентов от теоретической (которую нетрудно рассчитать, зная параметры кристаллической решетки [16, с. 8; 25, гл. I; 31, с.451—477]).[1, С.44]
Несмотря на большое число экспериментальных работ, направленных на создание более активных катализаторов путем модификации каталитических систем третьим компонентом, теории выбора лучшего модификатора пока нет. Однако некоторые авторы приводят определенные рекомендации по подбору модификаторов в конкретных условиях проведения полимеризации. Так, Ямадзаки [72] указывает, что для соединений электро-нодонорного характера (амины, фосфины и др.) способность выполнять роль активатора можно предварительно оценить по константе кислотной диссоциации. Если в качестве активатора используются неорганические соли (NaCl, KgTiFe), то кроме указанной константы дополнительно требуется определить параметры кристаллической решетки. Другие авторы [73] указывают на возможность оценки реакционной способности активатора по индукционному эффекту.[2, С.62]
ляющий рассчитывать параметры кристаллической решетки; порошковый метод, или метод Дебая, с использованием монохроматического излучения и образца в виде спрессованного порошка (поликристаллического объекта). При рентгенографическом исследовании полимеров используют в основном два метода: порошковый метод и метод просвечивания одноосно ориентированных объектов (волокон, пленок синтетических полимеров). В методе Дебая при фотографическом способе регистрации кристаллический образец дает на плоской пленке систему интерференционных линий в виде концентрических колец -дебаеграмму. Аморфный образец вызывает появление на пленке диффузного (размытого) кольца - «аморфно! о гало», тогда как в случае аморфно-кристаллического образца на дебаеграмме одновременно наблюдаются и кольца и аморфное гало. Рентгенограмма одноосно ориентированного полимера напоминает рентгенограмму вращающегося низкомолекулярного кристалла; ее рефлексы располагаются на так называемых слоевых линиях, соответствующих определенным системам плоскостей кристаллической решетки. Методы с фотографической регистрацией трудоемки, длительны и сложны в расшифровке рентгенограмм. Поэтому в последнее время применяют преимущественно дифрактометрический метод.[5, С.146]
ТЕОРЕТИЧЕСКАЯ МЕХАНИКА СТУДЕНТАМ!!! Задачи по теоретической механике из сборника курсовых работ под редакцией А.А. Яблонского, Кепе, Диевского. Быстро, качественно, все виды оплат, СМС-оплата.
А также: Готовые решения задач по теормеху из методичек Тарга С.М. 1988 и 1989 г. и задачника Мещерского. Решение любых задач по термеху на заказ.
Если Вам нужны решения задач по Физике из методички Чертова А.Г. для заочников, а также решебнки: Прокофьева, Чертова, Воробьёва и Волькинштейна. Решение любых задач по физике и гидравлике на сайте fiziks.ru
Что самое приятное на любом из этих сайтов Вы можете заказать решение задач по другим предметам: химия, высшая математика, строймех, сопромат, электротехника, материаловедение, ТКМ и другие.