Ширина полосы поглощения SH - ширина, измеренная на половине максимальной интенсивности и выраженная в Гц. Поскольку обычно записывается первая производная кривой поглощения по напряженности поля, то в этом случае 8Н находится как расстояние между соответствующими экстремумами спектра.[3, С.256]
Длительность вспышки (т) представляет собой интервал времени от \/е максимальной интенсивности на восходящей части кривой до соответствующей точки нисходящей части кривой для рассеянного света (рис. 16.17). Рассмотрим простой контур RCL (рис. 16.18), где R — сопротивление, обусловленное лампой после начала разряда (зависит от длины лампы, обычно R составляет примерно 5 Ом или менее), С — емкость, которая является переменной величиной, но обычно изменяется от 1 до 20 мкФ, L — индуктивность, обусловленная конденсатором: при очень коротких т индуктивность должна быть очень мала, чтобы можно было поддерживать большие значения емкости. Из контура RCL видно, что длительность вспышки составляет[5, С.281]
Здесь Фд;, H^fe и С* — интегральная интенсивность, полуширина (ширина на половине максимальной интенсивности) и положение центра тяжести fc-ro рентгеновского пика соответственно. Параметр ту соответствует относительной доле лоренцевой и гауссовой компонент в форме профиля рентгеновского пика. Если т] = 1, форма профиля описывается только функцией Лоренца (длинные хвосты); если т/ = 0, — то только функцией Гаусса (короткие хвосты) .[2, С.34]
В методе рентгенографии полуширина дифракционной линии, т.е. расстояние между точками, в которых интенсивность составляет половину максимальной интенсивности В связана с размерами кристаллита L следующим образом:[3, С.365]
Близкие результаты были получены при исследовании Си, полученной ИПД консолидацией порошков после шарового размола [81]. Было показано, что рентгенограмма порошка Си, подвергнутого измельчению в шаровой мельнице в течение 100 ч (рис. 1.395), представляет собой набор характерных для исходного Си порошка рентгеновских пиков (рис. 1.39о). В то же время относительная интенсивность рентгеновских пиков существенно отличается (табл. 1.2). Обращает на себя внимание существенное уменьшение относительной максимальной интенсивности всех рентгеновских пиков по сравнению с рентгеновским пиком (111). Все пики на рентгенограммах порошка Си, измельченного в шаровой мельнице в течение 100 ч (рис. 1.396), и массивного образца Си, сконсолидированного из этого порошка ИПД кручением под высоким давлением (рис. 1.39в), характеризуются значительным уширением.[2, С.57]
При оценке СК по наиболее точному методу кривую зависимости интенсивности дифрагированных лучей от угла рассеяния (см. рис. 9.5) разбивают на две части -кристаллические пики и рассеяние аморфной частью (пунктирная линия). У высокоориентированной целлюлозы (хлопковой, рами) в интервале углов рассеяния до 34° имеются три кристаллических максимума при углах 29, равных 22,6; 16,2; 14,6° и аморфное гало с максимумом при 29 = 19°. Проводят линию, отделяющую фоновое рассеяние, через точки кривой при 29 4° и 32°. Степень кристалличности рассчитывают по интегральной интенсивности рассеяния как отношение площадей кристаллических пиков к общей площади под кривой рассеяния за вычетом фонового рассеяния: СК = S|c/(S|< + Sj), где Sk и Sa — соответственно суммарная площадь кристаллических пиков и площадь, ограниченная кривой рассеяния аморфной части. Иногда вместо степени кристалличности определяют так называемые индексы кристалличности, например, отношение интенсивности кристаллического пика 1^ при 29 = 22,6°, за вычетом максимальной интенсивности аморфного гало 1а при 29 = 19°, к 1К: (1^- 1а)Л|о Ошибки в определении фонового рассеяния, возникновение диффузного рассеяния, обусловленного дефектами кристаллической решетки и паракристаллической частью, приводят к недостаточной точности определения СК рентгенографическими методами.[4, С.243]
Как можно видеть из рис. 127, длина волны, соответствующая максимальной интенсивности, зависит от температуры источника. Этот эффект описывается законом смещения Вина [9][7, С.247]
Показано, что М,М-двузамещенные цепные амиды характеризуются резкой полосой .поглощения при 1626 см~1, тогда как амидная полоса N-метиллактамов расщепляется на две или три. Частота, соответствующая максимальной интенсивности этих дублетов или триплетов, уменьшается с увеличением лактамного кольца. Этот эффект приписан возрастанию резонансного вклада[10, С.181]
Ширина на полувысоте максимальной интенсивности РЯРРТПЯТТИР МРЖ/TV пи- ДЯ1/2 л и ^2 ДЯ1/2 ^ /2 у/2 ДЯ1/2[5, С.344]
тельной максимальной интенсивности рентгеновского пика (200) в сравнении с соответствующей интенсивностью рентгеновского пика (111) в следующей последовательности: исходный порошок (~ 0,5) —> порошок, измельченный в шаровой мельнице (~ 0,3),—» массивный наноструктурный образец Ni, полученный консолидацией порошка ИПД (~ 0,1) (рис. 1.38). При этом стандартное значение для хаотической ориентации зерен равно 0,42.[2, С.56]
1. Ионная интенсивность по отношению к максимальной интенсивности в процентах (ИИтах). Для того чтобы найти относительную интенсивность пика /-го иона в спектре, выбирают пик с наибольшей интенсивностью. Интенсивность этого пика называется ионной интенсивностью базового пика (рь). Теперь для вычисления %ИИшах достаточно разделить высоту пика /-го иона (/?/) на рь и умножить на 100[5, С.366]
ТЕОРЕТИЧЕСКАЯ МЕХАНИКА СТУДЕНТАМ!!! Задачи по теоретической механике из сборника курсовых работ под редакцией А.А. Яблонского, Кепе, Диевского. Быстро, качественно, все виды оплат, СМС-оплата.
А также: Готовые решения задач по теормеху из методичек Тарга С.М. 1988 и 1989 г. и задачника Мещерского. Решение любых задач по термеху на заказ.
Если Вам нужны решения задач по Физике из методички Чертова А.Г. для заочников, а также решебнки: Прокофьева, Чертова, Воробьёва и Волькинштейна. Решение любых задач по физике и гидравлике на сайте fiziks.ru
Что самое приятное на любом из этих сайтов Вы можете заказать решение задач по другим предметам: химия, высшая математика, строймех, сопромат, электротехника, материаловедение, ТКМ и другие.