Фон на рентгенограмме является результатом диффузного рассеяния рентгеновских лучей [87]. Как известно, причинами появления фона могут быть тепловое диффузное рассеяние, отсутствие дальнего и (или) ближнего порядка в расположении атомов при аморфизации вещества и диффузное рассеяние твердым раствором. Тепловое диффузное рассеяние приводит к монотонному росту интенсивности фона с ростом угла дифракции 9 на рентге-[1, С.78]
Степень кристалличности определяют вычитанием интенсивности диффузного рассеяния от аморфной фракции из общей интенсивности по методу Германса [17]. Однако этот метод, несмотря на его детальную обработку, включает ряд допущений и не является теоретически строго обоснованным. Чаще ограничиваются оценкой индекса кристалличности /кр [18], который выражается через отношение ширины второго экваториального пика —рефлекс от плоскости (101) —к его высоте:[3, С.21]
На практике исследуемую среду облучают мопохро-матич. светом и па фоне диффузного рассеяния регистрируют дискретные максимумы, частоты к-рых отличаются от частоты падающего света на величины собственных частот нормальных колебаний молекул. Интенсивное развитие К. р. с. полимеров обусловлено введением в практику исследований лазерных источников спета. Этот метод дает информацию о структуре рассеивающих молекул и о межмолекулярном взаимодействии.[9, С.252]
На практике исследуемую среду облучают монохро-матич. светом и на фоне диффузного рассеяния регистрируют дискретные максимумы, частоты к-рых отличаются от частоты падающего света на величины собственных частот нормальных колебаний молекул. Интенсивное развитие К. р. с. полимеров обусловлено введением в практику исследований лазерных источников света. Этот метод дает информацию о структуре рассеивающих молекул и о межмолекулярном взаимодействии.[11, С.250]
Интенсивность фона, наблюдаемого на рентгенограммах, является не только результатом диффузного рассеяния рентгеновских лучей на образце, но также связана с инструментальными факторами (например, с рассеянием дифрагировавшего излучения атмосферным воздухом) [141]. Бели инструментальные факторы одинаковы для исследуемых образцов, то появляется возможность сравнительного анализа роли самих образцов в формировании диффузного фона рассеяния на рентгенограммах. Интенсивность дифрагировавших рентгеновских лучей, зафиксированная на рентгенограмме, складывается из интенсивности рентгеновских пиков и интенсивности фона [130]. Для отделения интенсивности, связанной с фоном, в районе рентгеновских пиков, представленных псевдофункциями Фойгта, проводят базисные линии. Левая и правая точки каждой базисной линии соответствуют интенсивности фона слева и справа от рентгеновского пика. Для получения интегральной интенсивности фона площади под базисными линиями суммируют с площадями под линией фона вне рентгеновских пиков.[1, С.79]
В некоторых случаях это является нежелательным, и тогда в прядильную ванну добавляют (диспергируя в ней) противогляк-цевые вещества — масла, воск и т. п. Они задерживаются волокном и служат центрами диффузного рассеяния света. Ещо лучшие результаты получаются при диспергировании двуокиси титана в растворе вискозы перед прядением. Размер частичек двуокиси титана подбирается так, чтобы они не удалялись при фильтрации. Было предложено несколько других веществ, но роль[5, С.367]
Согласно вышеописанной схеме в блочных образцах не должно образовываться значительное число пустот внутри объема полимера. Это находит подтверждение в том, что степень кристалличности, определенная дилатометрически и на основании рентгеновских данных, оказывается одной и той же. Кроме того, не обнаружено усиления диффузного рассеяния в области малых углов от отожженных образцов, по крайней мере от пор размером 1000 А и менее [89].[8, С.81]
В связи с вышесказанным, на наш взгляд, особую роль приобретает исследование фона на рентгенограммах наноструктурных материалов, значительные объемы в которых принадлежат границам зерен. Смещение атомов в границах зерен из равновесных положений, характерных для кристаллической решетки, должно существенно влиять на интенсивность диффузного рассеяния рентгеновских лучей наноструктурными материалами.[1, С.79]
Чем меньше угол дифракции, тем, вообще говоря, больше расстояние между соответствующими частицами в структуре. Поэтому изучение дифракции в малых углах дает возможность получить сведения о размерах, форме и взаимном расположении частиц размером в десятки и сотни А. Обычно различают два типа малоугловой дифракции — диффузное и дискретное рассеяние. Интенсивность диффузного рассеяния постепенно уменьшается по мере увеличения угла дифракции. Дискретное рассеяние состоит из одного или нескольких максимумов, аналогичных рефлексам, наблюдаемым при дифракции в больших углах. Оба вида малоугловой дифракции встречаются как у изотропных, так и у ориентированных полимеров.[10, С.170]
Чем меньше угол дифракции, тем, вообще говоря, больше расстояние между соответствующими частицами в структуре. Поэтому изучение дифракции в малых углах дает возможность получить сведения о размерах, форме и взаимном расположении частиц размером в десятки и сотни А. Обычно различают два типа малоугловой дифракции — диффузное и дискретное рассеяние. Интенсивность диффузного рассеяния постепенно уменьшается по мере увеличения угла дифракции. Дискретное рассеяние состоит из одного или нескольких максимумов, аналогичных рефлексам, наблюдаемым при дифракции в больших углах. Оба вида малоугловой дифракции встречаются как у изотропных, так и у ориентированных полимеров.[12, С.170]
Рентгенограммы кристаллических полимеров неизменно содержат широкое гало, соответствующее брэгговскому периоду в области 3—5 А. Наличие гало может, в принципе, объясняться рассеянием как от аморфных областей, так и от нарушений порядка в кристалле. Поэтому, используя только рентгенографические данные и отбрасывая обширную и ценную информацию, полученную другими методами, довольно трудно* установить молекулярную природу этого диффузного рассеяния. Однако очень тщательный анализ Руланда {36] как диффузной^ так и дискретной дифракции на полипропилене показывает, что гало обусловлено именно наличием аморфных областей, в которых отсутствует какой-либо структурный порядок.[7, С.293]
ТЕОРЕТИЧЕСКАЯ МЕХАНИКА СТУДЕНТАМ!!! Задачи по теоретической механике из сборника курсовых работ под редакцией А.А. Яблонского, Кепе, Диевского. Быстро, качественно, все виды оплат, СМС-оплата.
А также: Готовые решения задач по теормеху из методичек Тарга С.М. 1988 и 1989 г. и задачника Мещерского. Решение любых задач по термеху на заказ.
Если Вам нужны решения задач по Физике из методички Чертова А.Г. для заочников, а также решебнки: Прокофьева, Чертова, Воробьёва и Волькинштейна. Решение любых задач по физике и гидравлике на сайте fiziks.ru
Что самое приятное на любом из этих сайтов Вы можете заказать решение задач по другим предметам: химия, высшая математика, строймех, сопромат, электротехника, материаловедение, ТКМ и другие.