Из приведенных соотношений видно, что разрешающая способность пропорциональна X для проекционного способа и Х°>5 для контактного способа. Очевидно, для оптического диапазона (X да 0,2 -т- 0,8 мкм) разрешение не может превышать 0,2 мкм. Это ограничение оптического метода экспонирования может быть преодолено лишь при переходе в более коротковолновый, например рентгеновский, диапазон электромагнитного излучения, где X л; х 0,5 — 5 нм. Однако реальные оптические системы, реальные условия формирования микроизображения не позволяет достичь и этих предельных значений и в настоящее время предельная разрешающая способность оптических методов не превышает 0,5 — 0,8 мкм, а хорошо освоенные и широко используемые процессы и системы обеспечивают разрешающую способность 1 — 1,5 мкм. Кроме длины волны излучения и другие параметры ограничивают реальную разрешающую способность оптических методов и часто определяют возможность использования того или иного метода на практике.[8, С.26]
Основной характеристикой микроскопа является его разрешающая способность, т. е. минимальное расстояние между двумя точками, при котором разделяется их изображение. Наибольшее разрешение может быть достигнуто при мини-„2 мальной длине волны электронов. Длина волны Я, может быть описана несколько видоизмененным уравнением де Бройля:[2, С.110]
Полезное увеличение микроскопов связано с разрешающей способность» глаза н прибора, Разрешающая способность определяется предельным разрешаемым расстоянием, т. е, наименьшим расстоянием между малыми частицами, на котором можно видеть ид раздельное изображение. Для глаза это расстояние k равно 0,1 — 0,3 мм Разрешающая способность ипкроскйпа (расстояние d] и разрешающая способность глаза (расстояние &} связаны соотношением dM=kr 1д? Л1 — полезное увеличение микроскопа.[3, С.117]
Для оценки надмолекулярных образований меньшего размера используют электронную микроскопию Просвечивающая электронная, микроскопия (ПЭМ) в принципе аналогична световой, но вместо светового пучка используют пучок электронов Длина волны пучка электронов л зависит от напряжения V Я. (1,5/^) ' Для ускорении электронов применяют высокое напряжение (50—100 кВ и даже 1 МБ); электронный пучок фокусируется с помощью электростатических электромагнитных полей Изображение формируется с помощью дополнительных электростатических или электромагнитных лннз и наблюдается на флуоресцентном экране или фотопластинке. Съемку проводят при глубоком вакууме (~10 5 мм рт ст.), показатель преломления пгр в этих условиях равен !. С повышением напряжения снижается длина волны пучка электронов н следовательно, растет разрешающая способность микроскопа. Наилучшее разрешение у промышленных приборов составляет 0,2—05 ня, а увеличение 103—!05 раз. Возникновение контраста на электронно микроскопических снимках обусловлено различной рассеивающей способностью идер разных атомов по отношению к электронному лучку. Поэтому полимеры, состоящие из легких идер часто дают неотчетливые снимки Для повышения контрастности их обрабатывают тяжелыми металлами, такими, как палладий, золото, хром, платина, осмий и др. Образцы для ПЭМ готовят в виде тонких («0,1 мкм) пленок, тонких срезов или так называемых «реплик», т е. отпечатков поверхностей сколов образцов^ Этот метод используют для изучения морфологии кристаллов н аморфных полимеров. К числу недостатков ПЭМ следует отнести сложность приготовления образцов н возможность ошибок (^артефактов») в определении структуры[4, С.86]
Таким образом, разрешающая способность тем больше (т. е. расстояние d[3, С.117]
Для средней дл(шы волны видимого саета {Х=6 • 1(Н еж) разрешающая способность[3, С.118]
Большое значение для практического использования имеет чувствительность и разрешающая способность прибора. Чувствительность - это отношение изменения аналитического сигнала AI к изменению концентрации определяемого компонента АС. Чем больше значение AI/AC, тем выше чувствительность прибора. Другой аналитической характеристикой является предел обнаружения - минимальная концентрация деполяризатора, которую можно определить данным прибором с какой-то допустимой погрешностью. Третья аналитическая характеристика - разрешающая способность по концентрации. Это отношение концентрации анализируемого деполяризатора к максимально возможной концентрации сопутствующего более электроположительного компонента, присутствие которого не мешает определению деполяризатора с заданной погрешностью. Разрешающая способность по потенциалу - это минимальная разность между потенциалами пиков анализируемого деполяризатора и сопутствующего компонента при одинаковом их содержании в растворе, при которой возможно определение анализируемого вещества с заданной точностью. При работе различных приборов в одинаковых режимах их чувствительность и разрешающая способность близки, что обусловлено малыми различиями в электрической схеме приборов.[5, С.311]
Наибольшая разрешающая способность фотоциклодимеризую-щихся составов была достигнута в слоях на основе смесей сополимеров IV и V при соотношении IV : V = 71 : 29, что позволяет использовать их в производстве ИС и БИС [пат. США 4063953]:[8, С.166]
Визуальные методы основаны на использовании электромагнитных колебаний с длиной волны, намного меньшей размеров изучаемого объекта. Разрешающая способность микроскопов ^м определяется длиной волны излучения ?., показателен преломления среды между образцом и линзой ппр и углом приема линзы йм й„ Л/(ппр$тОм). К визуальным методам относятся, световая и электронная микроскопия.[4, С.86]
ТЕОРЕТИЧЕСКАЯ МЕХАНИКА СТУДЕНТАМ!!! Задачи по теоретической механике из сборника курсовых работ под редакцией А.А. Яблонского, Кепе, Диевского. Быстро, качественно, все виды оплат, СМС-оплата.
А также: Готовые решения задач по теормеху из методичек Тарга С.М. 1988 и 1989 г. и задачника Мещерского. Решение любых задач по термеху на заказ.
Если Вам нужны решения задач по Физике из методички Чертова А.Г. для заочников, а также решебнки: Прокофьева, Чертова, Воробьёва и Волькинштейна. Решение любых задач по физике и гидравлике на сайте fiziks.ru
Что самое приятное на любом из этих сайтов Вы можете заказать решение задач по другим предметам: химия, высшая математика, строймех, сопромат, электротехника, материаловедение, ТКМ и другие.