Для оценки надмолекулярных образований меньшего размера используют электронную микроскопию Просвечивающая электронная, микроскопия (ПЭМ) в принципе аналогична световой, но вместо светового пучка используют пучок электронов Длина волны пучка электронов л зависит от напряжения V Я. (1,5/^) ' Для ускорении электронов применяют высокое напряжение (50—100 кВ и даже 1 МБ); электронный пучок фокусируется с помощью электростатических электромагнитных полей Изображение формируется с помощью дополнительных электростатических или электромагнитных лннз и наблюдается на флуоресцентном экране или фотопластинке. Съемку проводят при глубоком вакууме (~10 5 мм рт ст.), показатель преломления пгр в этих условиях равен !. С повышением напряжения снижается длина волны пучка электронов н следовательно, растет разрешающая способность микроскопа. Наилучшее разрешение у промышленных приборов составляет 0,2—05 ня, а увеличение 103—!05 раз. Возникновение контраста на электронно микроскопических снимках обусловлено различной рассеивающей способностью идер разных атомов по отношению к электронному лучку. Поэтому полимеры, состоящие из легких идер часто дают неотчетливые снимки Для повышения контрастности их обрабатывают тяжелыми металлами, такими, как палладий, золото, хром, платина, осмий и др. Образцы для ПЭМ готовят в виде тонких («0,1 мкм) пленок, тонких срезов или так называемых «реплик», т е. отпечатков поверхностей сколов образцов^ Этот метод используют для изучения морфологии кристаллов н аморфных полимеров. К числу недостатков ПЭМ следует отнести сложность приготовления образцов н возможность ошибок (^артефактов») в определении структуры[1, С.86]
Электронную микроскопию для исследования полимеров использовали также Каргин и Корецкая [927] и Скотт [928]. Изучение структуры монослоев полиамида на поверхности воды под электронным микроскопом проведены Инокути [929].[12, С.258]
Просвечивающую электронную микроскопию применяют для изучения внутренней микроморфологии, полимерных кристаллических решеток, полимерных сеток, распределения пор по размерам, мо-лекулярновесового распределения (разд. 27.6).[5, С.109]
В исследованиях полимеров применяют два основных метода: просвечивающую электронную микроскопию (ПЭМ) и растровую, или сканирующую, электронную микроскопию (РЭМ, или СЭМ). В ПЭМ используют довольно сложные методики подготовки образцов. Образцы готовят либо прямыми методами в виде ультратонких срезов или тонких пленок, получаемых выливанием разбавленных растворов полимеров на поверхность воды или другой жидкости, либо косвенным методом в виде реплик (копий с поверхности изучаемого материала), пластмассовых или угольных. Для повышения контрастности электронных микрофотографий используют напыление металлов на полимерный объект или реплику, нанесение других контрастирующих веществ. Иногда перед получением реплик объект замораживают в жидком азоте и раскалывают.[4, С.144]
Для определения совместимости полимеров используют рентгенографию, оптическую и электронную микроскопию, значения механических и диэлектрических потерь, ЯМР, радиотермолюминесценцию, построение фазовых диаграмм, термо-[9, С.286]
Для изучения структуры полимеров в К. с. применяют рентгенографию, электронографию, электронную микроскопию и оптпч. методы (см. Рентгеноструктур-ный анализ, Электронномикроскопическое исследование, Светорассеяние), позволяющие изучать структурные образования различных размеров — от десятых долей нм (от нескольких А) до десятков мкм. С гкмощью метода ядерного магнитного резонанса, электрнч. методов исследуют молекулярные движения в кристаллических п аморфных областях полимеров.[10, С.594]
Для изучения структуры полимеров в К. с. применяют рентгенографию, электронографию, электронную микроскопию и оптич. методы (см. Рентгеноструктур-ный анализ, Электронномикроскопическое исследование, Светорассеяние), позволяющие изучать структурные образования различных размеров — от десятых долей нм (от нескольких А) до десятков мкм, С помощью метода ядерного магнитного резонанса, электрич. методов исследуют молекулярные движения в кристаллических и аморфных областях полимеров.[11, С.591]
Методы изучения гомогенности и морфологии смесей полимеров включают изучение процессов стеклования, оптическую, флуЫ ресцентную, атомно-силовую и электронную микроскопию, малоугловое рассеяние рентгеновских лучей и нейтронов и ядерный магнит-* ный резонанс. Все эти методы применимы при исследовании полимеров в массе, однако могут быть некоторые ограничения, связанные с присутствием наполнителей [4]. Наиболее информативными оказываются методы микроскопии, так как контрастирование фаз дает воз-[3, С.574]
Изучению кристаллизации полимерных расплавов в условиях, приближающихся к технологическим, а также исследованию структуры промышленных пленок и волокон, посвящено большое число работ, использующих самые разнообразные физические методы: электронную микроскопию, рентгеновскую дифракцию, светорассеяние, двулучепреломление, термографию, селективную деградацию с последующим измерением ММР и т. д. [67].[8, С.58]
Исследование поведения латексов сополимера этилакрилата с АК и МАК при кондуктометрическом титровании показало [216] наличие на кривых титрования характерной точки, соответствующей 'количеству оттитрованных карбоксильных групп, расположенных на -периферии частиц. Применяя электронную микроскопию, авторы установили различие в процессе растворения сополимеров с АК и МАК, что связано с разным расположением карбоксильных групп в частицах. Звенья более гидрофобного сомономера — мет-акриловой кислоты равномерно распределены в толстом поверхностном слое частиц, тогда как концентрация звеньев более гидрофильной акриловой кислоты резко уменьшается от -поверхности в глубь частицы. Даже при высоком содержании акриловой .кислоты сердцевина частиц остается нерастворимой в щелочных растворах, что указывает на очень низкую концентрацию или полное отсутствие карбоксильных групп в полимере, находящемся в этих частицах.[7, С.137]
Кинетическое (термофлуктуациояное) разрушение связано с накоплением структурной повреждешгости (микротрещин), образующейся при разрыве связи. Рассмотрим специфику этого процесса, который поддается количественному анализу с помощью прямых физических методов [89, 90, 160], включая инфракрасную спектроскопию (ИКС), электронный парамагнитный резонанс (ЭПР), масс-спектрометрию (МС), ядерный магнитный резонанс (ЯМР), рентгеновскую дифракцию в малых (РДМ) и больших (РДБ) углах, электронную микроскопию (ЭМ), дифракцию видимого света (ДС) и т. п.[6, С.135]
ТЕОРЕТИЧЕСКАЯ МЕХАНИКА СТУДЕНТАМ!!! Задачи по теоретической механике из сборника курсовых работ под редакцией А.А. Яблонского, Кепе, Диевского. Быстро, качественно, все виды оплат, СМС-оплата.
А также: Готовые решения задач по теормеху из методичек Тарга С.М. 1988 и 1989 г. и задачника Мещерского. Решение любых задач по термеху на заказ.
Если Вам нужны решения задач по Физике из методички Чертова А.Г. для заочников, а также решебнки: Прокофьева, Чертова, Воробьёва и Волькинштейна. Решение любых задач по физике и гидравлике на сайте fiziks.ru
Что самое приятное на любом из этих сайтов Вы можете заказать решение задач по другим предметам: химия, высшая математика, строймех, сопромат, электротехника, материаловедение, ТКМ и другие.