Внутренние напряжения в кристаллических материалах могут быть измерены по изменению параметров кристаллической решетки рентгенографическим и электронографическим методами [274—276]. Описаны и другие физические методы измерения внутренних напряжений [218].[7, С.236]
Вычисленные методом наименьших квадратов с учетом весовой функции sin 20 sin 20 усредненные значения параметров кристаллической решетки для наноструктурной Си, полученной ИПД кручением с числом оборотов, равным 6, и крупнокристаллической Си оказались равными 3,6135±0,0003 А и 3,6148±0,0002 А соответственно [79-82]. Таким образом, величина параметра кристаллической решетки в наноструктурной Си, полученной ИПД, была примерно на 0,03 % меньше значения, соответствующего крупнокристаллической Си. Последнее в свою очередь очень близко к табличному значению 3,6150 А.[4, С.73]
Количественная оценка показывает, что величина упругих микроискажений решетки, обусловленная дальнодействующими полями внесенных ЗГД в теле зерен при их плотности р = 1,0нм-1, очень велика и составляет, например, 2,55% при размере зерен равном 20 параметров кристаллической решетки. Увеличение размера зерен от 10 до 100 параметров кристаллической решетки приводит к уменьшению величины упругих микроискажений от 3,25 % до 1,37%, что при произвольном знаке направлений упругих смещений атомов в теле зерен в соответствии с уравнением[4, С.118]
Следует отметить, что указанная плотность внесенных ЗГД весьма велика и, по-видимому, является предельно достижимой в границах зерен. При такой плотности расстояние между соседними внесенными зернограничными дислокациями в среднем должно составлять 1,0-нм, т. е. всего лишь несколько параметров кристаллической решетки. Уменьшение плотности внесен-[4, С.118]
Процесс компьютерного моделирования проводился с использованием следующей модели УМЗ поликристалла. Поликристалл состоял из 361 зерна, каждое из которых было заданным образом ориентировано в пространстве. Каждое зерно имело форму прямоугольного параллелепипеда с одинаковой длиной ребер, варьировавшейся от 4 до 50 параметров кристаллической решетки. Ребра параллелепипеда совпадали с направлениями [100], [010] и [001] в кристаллической решетке. Тип кристаллической решетки — ГЦК. Параметр кристаллической решетки соответствовал табличному значению для чистой Си и равнялся 3,615 А. Длина волны рентгеновского излучения равнялась 1,54178 А и соответствовала CuKai излучению. Интенсивность рентгеновских лучей, рассеянных поликристаллом, находили как сумму интенсивностей, полученных в результате рассеяния рентгеновских лучей отдельными зернами. При этом учитывали ослабление интенсивности, связанное с тепловыми колебаниями атомов и частичной поляризацией рентгеновских лучей.[4, С.115]
Вычисления в соответствии с уравнениями (2.37) и (2.38) показывают, что усредненные упругие смещения атомов из узлов идеальной кристаллической решетки очень велики вблизи границ зерен и медленно убывают в теле зерен (рис. 2.27), достигая для р1 = 1,0нм-1 значения 6,01% в первом атомном слое, 4,25% во втором слое и т. д. В центре зерна с размером, равным 20 параметрам кристаллической решетки, усредненные смещения атомов составляют 1,34% и для размера зерна 50 параметров кристаллической решетки — 0,85 %.[4, С.117]
Методы ИК-спектроскопии и |3С-ЯМР-спектроскопии высокого разрешения в твердых телах позволяют проследить изменения во всей структуре целлюлозы. При обработке разбавленными растворами гидроксидов существенных изменений в спектрах не отмечено. При определенных концентрациях изменения в спектрах указывают на начало перестройки межмолекулярных связей, в том числе и водородных, которая завершается при несколько больших концентрациях щелочных растворов. Интересно отметить, что при пересчете концентрации растворов на содержание гидроксид-ионов изменения в спектрах ЯМР хлопковой целлюлозы начинались и заканчивались для гидроксидов Na, К и Li при одних и тех же концентрациях в интервале от 3 до 5 моль/дм3. Это дало основание авторам исследования утверждать, что структурные изменения целлюлозы происходят преимущественно под действием гидроксид-ионов. Гидратация катионов оказывает влияние на изменение параметров кристаллической ячейки.[5, С.566]
Определена кристалличность поликапролактама рентгенографическим дифференциально-фильтрационным методом, который рекомендуется также для определения параметров кристаллической решетки полимеров 1678>1676.[8, С.413]
ее изменения; Тс линейно возрастает с увеличением молекулярной массы полимера. На ее значение также влияет изменение параметров кристаллической решетки полимера. С учетом всего этого можно считать справедливым соотношение вида ГС^2/3ГПЛ, которое целесообразно называть правилом Кауцмана— Бой-ера—Бимена (КББ).[1, С.273]
по существу идентична фактору пористости Р = \ I рк -1 / ри , где рк - кажущаяся плотность; ри - истинная плотность. При этом рк представляет собой плотность тела при данной температуре, на которую влияют имеющиеся в нем поры. Лучше всего кажущуюся плотность измерять для тел правильной геометрической формы, т.к. не используя никаких растворителей, можно найти величину рк делением массы тела на его объем. Если измеряют кажущуюся плотность тел неправильной формы, можно использовать пикнометреческий или дилатометрический методы. Трудность здесь заключается в подборе жидкости, которая не смачивает поверхность данного тела и не проникает вглубь него. Истинная плотность ри - это плотность монолитной части материала, не содержащей пор. Наилучшим образом истинная плотность определяется для идеального кристалла, поскольку ее можно рассчитать на основании параметров кристаллической решетки. В случае аморфных и частично-кристаллических тел можно применять метод градиентных трубок, используя жидкости, хорошо проникающие в поры. Следует, однако, иметь в виду, что при создании градиента плотности в трубке используют смеси двух жидкостей, и каждая из них может обладать различной смачивающей и проникающей в поры способностью. Тогда картина искажается и определяемая плотность не будет истинной.[3, С.58]
ТЕОРЕТИЧЕСКАЯ МЕХАНИКА СТУДЕНТАМ!!! Задачи по теоретической механике из сборника курсовых работ под редакцией А.А. Яблонского, Кепе, Диевского. Быстро, качественно, все виды оплат, СМС-оплата.
А также: Готовые решения задач по теормеху из методичек Тарга С.М. 1988 и 1989 г. и задачника Мещерского. Решение любых задач по термеху на заказ.
Если Вам нужны решения задач по Физике из методички Чертова А.Г. для заочников, а также решебнки: Прокофьева, Чертова, Воробьёва и Волькинштейна. Решение любых задач по физике и гидравлике на сайте fiziks.ru
Что самое приятное на любом из этих сайтов Вы можете заказать решение задач по другим предметам: химия, высшая математика, строймех, сопромат, электротехника, материаловедение, ТКМ и другие.