Для установления структуры кристаллов используются различные методы [3—6], к которым относятся метод Лауэ, метод вращения кристалла, метод Дебая — Шерера (метод «порошка»). В методе Лауэ используется полихроматическое рентгеновское излучение. Если на пути пучка рентгеновских лучей поставить кристалл, то в нем всегда найдутся такие кристаллографические плоскости (hkl), для которых при определенных длинах электромагнитных волн (Яь Я2, Х3,......, Хп) будет выполняться уравнение (2.8).[5, С.38]
Найденная независимость структуры кристаллов полимеров от строения и степени регулярности цепных молекул (в пределах данного типа полимера) привела авторов к выводу о невозможности существования трехмерных кристаллических решеток у полимеров. Таким образом, было показано принци-[6, С.85]
Лит.: Китайгородский А. И., Рентгенострук-турный анализ, М., 1950; Липсон Г., Кокрен В., Определение структуры кристаллов, пер. с англ., М., 1956; Б о-к и и Г. Б., П о р а и - К о ш и ц М. А., Рентгеноструктур-ный анализ, М., 1964; Вайнштейн Б. К., Дифракция рентгеновых лучей на цепных молекулах, М., 1963; Китайгородский А. И., Органическая кристаллохимия, М., 1955; Д ж е и л Ф. X., Полимерные монокристаллы, пер. с англ., М.— Л., 1968; Гинье А., Рентгенография кристаллов, пер. с франц., М., 1961; Kakudo M., Kassi N.. X-Ray Diffraction by Polymers, Tokyo — [a. o.j, 1972; Вундерлих В., Физика макромолекул, пер. с англ., М., 1976. Д. Я. Цванкин. РЕОЛОГИЯ полимеров (rheology, Rheologie, rheologie).[11, С.170]
Первые рентгенограммы целлюлозы были получены в самом начале развития рентгеновского метода исследования структуры кристаллов. Картина дифракции представляла собой, как известно, систему размытых рефлексов. Формальное применение к целлюлозе теории рассеяния рентгеновских лучей на низкомолекулярных кристаллах привело к выводу о том, что расширение интерференционных пятен обусловлено очень малыми размерами кристаллов целлюлозы и что вырождение интерференционных колец в пятна и дуги связано с высокой степенью ориентации этих кристаллов в волокне. Такой вывод хорошо согласовался с наличием у целлюлозных волокон двойного лучепреломления света, которое считалось ранее для однородных систем неотъемлемым свойством кристаллической фазы.[6, С.81]
Лит.: Китайгородский А. И., Рентгенострук-турный анализ, М., 1950; Л и ц сои Г., К о к р с н В., Определение структуры кристаллов, пер. с англ., М., 1958; В <>-к и и Г. Б., Порай-Кошиц М. А., Рентгеноструктур-иый анализ, М., 1964; В Эйнштейн Б. К., Дифракция рентгеновых лучей на цепных молекулах, М., 1963; К и т а и г о-р оде кий А. И., Органическая кристаллохимия, М., 1955; Джейл Ф. X., Полимерные монокристаллы, пер. с англ., М.— Л., 1968; Гинье А., Рентгенография кристаллов, пер. с франц., М., 1961; Kakudo M., Kassi N., X-Ray Dif-fraclion by Polymers, Tokyo — [a. o.J, 1972; Вундерлих Б., Физика макромолекул, пер. с англ., М., 1976. Д. Я. Цванкин. РЕОЛОГИЯ полимеров (rheology, Rheologie, rheologie).[8, С.170]
Введение оксида цинка в бинарные смеси ускорителей практически во всех случаях сопровождается возрастаниемдефектности кристаллов, что обусловлено особенностями структуры кристаллов оксида цинка и характером их взаимодействия с кристаллическими ускорителями. При контакте кристаллов ZnO и ускорителей поверхности последних приспосабливаются к поверхности кристаллов оксида цинка, вследствие чего происходит сильная деформация кристаллических решеток ускорителей и возрастание межфазной поверхностной энергии. Равнодействующая поверхностных сил при этом направлена к более полярным кристаллам оксида цинка [273]. Эта равнодействующая, искажающая поверхность кристаллов ускорителей и приспосабливающая их к поверхности кристаллов оксида цинка, ослабляет силы межмолекулярного взаимодействия между молекулами эвтектических смесей ускорителей и при нагревании приводит к снижению температуры плавления системы. В процессе плавления молекулы ускорителей, в зависимости от их полярности, селективно адсорбируются на поверхности кристаллов оксида цинка с выделением теплоты адсорбции, частично компенсирующей энтальпию плавления системы, что подтверждается исследованиями методом ДСК.[3, С.176]
Температура плавления ХПЭ (полученного суспензионным методом из ПЭ низкой плотности) заметно возрастает с увеличением времени отжига, увеличиваясь до 94 °С после выдержки в течение 2 ч при 83°С. Эти изменения, установленные с помощью дифференциальной сканирующей калориметрии, свидетельствуют об изменении тонкой структуры кристаллов ХПЭ в процессе отжига. Температура плавления исходного ПЭ низкой плотности после отжига такой же продолжительности при 100 °С возрастает всего на 1°С [21].[2, С.33]
Лит ' Д ж е и л Ф. X., Полимерные монокристаллы, пер. о англ., Л., 1968, Физика и химия твердого состояния органических соединений, пер. с англ., М., 19R7, с. 403; Новейшие методы исследования полимеров, пер. с англ., М., 1966; П о-рай-Кошиц М. А., Б о к и и Г. Б., Практический курс рентгеноструктурного анализа, т. 1—2, М., 1951—60; К о-крен В., Л и пеон Г., Определение структуры кристаллов, пер. с англ., М., 1956; Китайгородский А. И., Органическая кристаллохимия, М., 1955; его же, Молекулярные кристаллы, М., 1971; Вайнштейн Б. К., Дифракция рентгеновых лучей на цепных молекулах, М., 1963.[10, С.594]
Лит.: Д № с Я л Ф. X., Полимерные монокристаллы, пор. с англ., Л., 11)68; Физика и химия твердого состояния органических соединений, пер. с англ., М., 1967, с. 403; Новейшие методы исследования полимеров, пер. с англ,, М., 1966; П о-р а й- К о ш и ц М. А., Б о к и и Г. Б., Практический курс рентгеноструктурного анализа, т. 1—2, М., 1951—60; К о-крен В., Л и пеон Г., Определение структуры кристаллов, пер. с англ., М., 1956; Китайгородский А. И., Органическая кристаллохимия, М., 1955; его же, Молекулярные кристаллы, М., 1971; Вайнштейн Б. К., Дифракция рентгеновых лучей на цепных молекулах, М., 1963.[9, С.597]
Применение рентгенографического анализа при исследовании структуры полимеров ограничено главным образом тем, что монокристаллы полимеров до сих пор не были получены, Однако, используя метод растяжения полимерного образца, в некоторых случаях можно добиться высокой степени ориентации кристаллитов и получить четкую рентгенограмму волокна. С помощью таких рентгенограмм было получено мнсго сведений о структуре ориентированных полимеров, а в отдельных случаях — полное описание структуры. Хорошей иллюстрацией общего метода установления структурыкристаллов полимеров служит работа Банна [8], посвященная определению конфигурации полиэтилена.[7, С.86]
Если структура кристалла известна, то с помощью рентгенографических данных можно вычислить электронную плотность в любой точке. Построив график распределения электронной плотности, можно получить картину изучаемой структуры. Построение трехмерного распределения электронной плотности в элементарной ячейке представляет собой очень трудоемкую задачу; таких работ почти не было до тех пор, пока не появились электронные вычислительные машины. Расчет можно упростить, если свести задачу к двум измерениям и вычислить проекцию электронной плотности элементарной ячейки на плоскость, перпендикулярную ребру ячейки. Такая проекция изображена на рис. 43. Подробности методов определения структуры кристаллов можно найти в посвященных этому вопросу работах [7, 16, 28, 34—36].[7, С.80]
ТЕОРЕТИЧЕСКАЯ МЕХАНИКА СТУДЕНТАМ!!! Задачи по теоретической механике из сборника курсовых работ под редакцией А.А. Яблонского, Кепе, Диевского. Быстро, качественно, все виды оплат, СМС-оплата.
А также: Готовые решения задач по теормеху из методичек Тарга С.М. 1988 и 1989 г. и задачника Мещерского. Решение любых задач по термеху на заказ.
Если Вам нужны решения задач по Физике из методички Чертова А.Г. для заочников, а также решебнки: Прокофьева, Чертова, Воробьёва и Волькинштейна. Решение любых задач по физике и гидравлике на сайте fiziks.ru
Что самое приятное на любом из этих сайтов Вы можете заказать решение задач по другим предметам: химия, высшая математика, строймех, сопромат, электротехника, материаловедение, ТКМ и другие.